投稿 投稿教程 网站建议
登陆 注册
蓬恩安全资讯网-www.shpesafe.com
导航
  • 首页
  • 法规标准
  • 培训课件
  • 隐患排查
  • 风险管控
  • 应急管理
  • 事故案例
  • 制度台账
  • 职业健康
  • 评价报告
  • 软件工具
  • MSDS查询
  • 标准查询
主页 > 标准规范 > 硅集成电路芯片工厂设计规范 GB50809-2012
在《硅集成电路芯片工厂设计规范 GB50809-2012》内检索
可同时查询多个内容,分隔符:空格为“与”,“\”为或。
硅集成电路芯片工厂设计规范 GB50809-2012
  • 前言
  • 1 总则
  • 2 术语
  • 3 工艺设计
  • 3.1 一般规定
  • 3.2 技术选择
  • 3.3 工艺布局
  • 4 总部设计
  • 4.1 厂址选择
  • 4.2 总体规划及布局
  • 5 建筑与结构
  • 5.1 建筑
  • 5.2 结构
  • 5.3 防火疏散
  • 6 防微振
  • 6.1 一般规定
  • 6.2 结构
  • 6.3 机械
  • 7 冷热源
  • 8 给排水及消防
  • 8.1 一般规定
  • 8.2 给排水
  • 8.3 消防
  • 8.4 灭火器
  • 9 电气
  • 9.1 供配电
  • 9.2 照明
  • 9.3 接地
  • 9.4 防静电
  • 9.5 通信与安全保护
  • 9.6 电磁屏蔽
  • 10 工艺相关系统
  • 10.1 净化区
  • 10.2 工艺排风
  • 10.3 纯水
  • 10.4 废水
  • 10.5 工艺循环冷却水
  • 10.6 大宗气体
  • 10.7 干燥压缩空气
  • 10.8 真空
  • 10.9 特种气体
  • 10.10 化学品
  • 11 空间管理
  • 12 环境安全卫生
  • 本规范用词说明
  • 引用标准名录
二维码

关于我们 | 联系我们 | 业务合作 | 法律声明

Copyright SHPESAFE.COM Rights Reserved.   苏ICP备1988号   Email:admin@shpesafe.com

本站收录的标准条文与条文说明均为国家标准、行业标准及政府文件的正式文本内容,仅供查阅参考;
正式使用请以正式出版的标准文本为准。已废止、已作废的标准不予收录。